反射式膜厚仪对材料表面起保护，装饰作用的覆盖层，如涂层，镀层，敷层，贴层，化学生成膜等，在一些国家和国际标准中称为覆层。

　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确要求。

　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　反射式膜厚仪的使用注意事项：

　　1.零点校准

　　在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准，因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量，零点校准可以消除前次测量有参数的影响，能够降低测量的结果的误差，使测量结果更加精确。

　　2.基体厚度不宜过薄

　　在使用反射式膜厚仪对物体进行测量时基体不宜过薄，否则会极大程度的影响仪器的测量精度，造成数据结果不准确，影响测量过程的正常进行。

　　3.物体表面粗糙程度

　　对于被测物体的表面不宜太过粗糙，因为粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了光学测量仪的测量精度，造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑，以保证测量结果的精确性。